Волобуев С.В. и др. Методы и средства повышения надежности модулей памяти компьютеров

Монография / С.В. Волобуев, А.П. Евдокимов, А.В. Меликов, В.Г. Рябцев, А.А. Шубович. — Волгоград: Волгоградский ГАУ, 2018. — 284 с. — ISBN: 978-5-4479-0138-7.Предлагается структура модулей памяти со встроенными средствами самотестирования и восстановления работоспособности при многократных отказах, что позволит выполнить замену разрядов данных основного массива запоминающих ячеек, в которых произошли отказы, на данные, поступающие с выходов запасного массива запоминающих ячеек. Автоматическую реконфигурацию структуры модулей памяти при обнаружении отказов обеспечивают предложенные аппаратные и программные средства.
Приведены особенности алгоритмов тестов, предназначенных для выполнения диагностирования микросхем и модулей памяти. Приведены особенности синтаксиса машинно-ориентированного языка Prover, транслятора программ тестов в среду автоматизированного проектирования цифровых систем Active-HDL и средства визуализации результатов моделирования. Монография предназначена для студентов и аспирантов университетов и специалистов по диагностированию модулей
памяти компьютеров.