Учебное пособие М.: Маршрут, 2004. — 318 с.
Изложены основные понятия и методы технической диагностики. Описаны модели неисправностей логических схем. Рассмотрены методы построения тестов для комбинационных схем и схем с памятью. Изложена теория контроля контактных схем. Даны основные структуры функционального диагностирования микропроцессорных систем и систем непрерывного типа.